漏電流 開短路測試 電氣特性測試數(shù)字源表

數(shù)字源表可作為獨立的恒壓源或恒流源、電壓表、電流表和電子負載，支持四象限功能，可提供恒流測壓及恒壓測流功能,可簡化芯片電性能測試方案。

在生產(chǎn)和老化測試時，往往要求在同一時間內(nèi)完成對多個DUT的測試，或者在單個DUT上異步或者同步地運行多個測試任務(wù)?；谄召愃笴S系列多通道插卡式數(shù)字源表搭建的測試平臺，可進行多路供電及電參數(shù)的并行測試，具有通道密度高、同步觸發(fā)功能強、多設(shè)備組合效率高等特點，最高可擴展至40通道。

使用普賽斯數(shù)字源表進行芯片的開短路測試(Open/Short Test)、漏電流測試（LeakageTest）以及DC參數(shù)測試（DC ParametersTest）。

開短路測試（Open-Short Test，也稱連續(xù)性或接觸測試），用于驗證測試系統(tǒng)與器件所有引腳的電接觸性，測試的過程是借用對地保護二極管進行的，測試連接電路如下所示：

漏電流測試，又稱為Leakage Test，漏電流測試的目的主要是檢驗輸入Pin腳以及高阻狀態(tài)下的輸出Pin腳的阻抗是否夠高，測試連接電路如下所示：

DC參數(shù)的測試，一般都是Force電流測試電壓或者Force電壓測試電流，主要是測試阻抗性。一般各種DC參數(shù)都會在Datasheet里面標明，測試的主要目的是確保芯片的DC參數(shù)值符合規(guī)范：