廠家納米級光學干涉測厚儀
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李先生
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| 類別 | 黃頁 儀器儀表網 | 品牌 | PSD |
| 型號 | PSD-2000 | 加工定制 | 是 |
| 電源電壓 | 220 | 顯示方式 | 電腦液晶顯示 |
| 來源 | 經紀人 | ||
廠家納米級光學干涉測厚儀
納米級光學干涉測厚儀應用：?PET、PE、PMMA等薄膜·離型膜·沉積膜·金屬表面漆膜涂層·膜涂層·塑料涂層產品簡介：PSD-2000型在線納米級光學膜厚儀利用光譜相干測量學，用于測量半導體制造過程中的薄膜厚度，以及安裝在半導體制造設備上的APC和薄膜的質量控制，能夠測量單層/多層/涂布層在不透光基板上的厚度，精確度可達納米級。PSD-2000型在線納米級光學膜厚儀，其核心部件主要源自于美國Ocean Optics有限公司，其微型光譜儀體積小巧，可對全譜進行快速采集，產品應用廣泛，可用于生化、光電、航空航天、環(huán)境保護、安全檢測、農業(yè)等行業(yè)，可進行 Low-E玻璃鍍膜檢測，ITO玻璃鍍膜檢測，PET涂布在線膜厚檢測，金屬表面涂層檢測，半導體，LCD膜厚檢測等。
工作原理：?分光干涉法當光入射到樣品內部，會發(fā)生多重反射現(xiàn)象，多重反射光會由于相互之間的相位差增強或減弱，而相位差取決于樣品的折射率和光程，因此來自于樣本的反射光譜與其厚度有直接關系。光譜干涉法就是利用這種獨特的光譜分析出樣品的厚度，該厚度測量儀器根據測試范圍的不同主要使用曲線擬合和FFT兩種方法對光譜進行分析。??適用前景：??PET薄膜厚度測量?涂層厚度測量，如HC，保護膜，光刻膠，OCA，離型膜等涂布厚度或克重的測量?用于包裝的PET表面介質膜克重或膜厚測量?金屬表面透明和半透明漆膜涂層?產品優(yōu)勢：在線掃描式或多點測量（多達15點）同時測量通過光強波動校正功能實現(xiàn)長時間穩(wěn)定測量提醒及警報功能(通過或失敗)反射(透射)和光譜測量同步測量多層厚度高速、高準確度??參數(shù)：型號PSD-2000WPSD-2000PPSD-2000R可測膜厚范圍15 nm - 100 um2nm - 200 um200nm-3000um測量可重復性0.02?μm測量準確±1%光源鎢鹵素燈測量波長380 - 1050 nm250 - 1050 nm900 - 1200 nm光斑尺寸約φ1?mm工作距離10?mm可測層數(shù)多10層分析FFT?分析，擬合分析測量時間19?ms/點外部控制功能Ethernet接口USB?2.0（主單元與電腦接口）；RS-232C（光源與電腦接口）電源AC100?V — 240?V,?50?Hz/60?Hz功耗約330W（2通道）~450W（15通道）??PSD-200實驗室型納米級光學干涉測厚儀? ??用途：·太陽能減反膜玻璃，TCO玻璃，Low-E玻璃，ITO玻璃，光學玻璃鍍膜等測量?！ET膜透明膠膜厚測量·膜厚，顏色，粗糙度，透過率，反射率，霧度·可用于實驗室離線測量技術水平：·精度0.1%，達到國際同類產品水平·檢測透明和半透明涂層·反射式太陽能玻璃的膜厚/折射率測量儀，具有測量速度快，測量準確，操作簡便的特點。???技術參數(shù)：產品類型可見光紫外+可見光厚度測量15nm-100μm1nm-100μm折射率厚度要求100nm以上厚度要求50nm以上準確性2nm或0.5%精度0.1nm測量時間小于1秒光斑大小大約1mm??軟件：
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