全武漢儀器/儀表信息
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高精度DC電流源精密直流源表帶脈沖
P系列脈沖源表是普賽斯在直流源表的基礎(chǔ)上新打造的一款高精度、大動(dòng)態(tài)、數(shù)字觸摸源表，匯集電壓、電流輸入輸出及測量等多種功能，Z大脈沖輸出電流達(dá)30A，Z大輸出電壓達(dá)300V，支持四象限工作，因此能廣泛的應(yīng)用于各種電氣特性測試中。PXOOB系列源表適用于各行各業(yè)使用者，特面議2025-08-01 -
多人同時(shí)測試,仰臥起坐計(jì)數(shù)器,LK-D0701
可自動(dòng)測試一分鐘仰臥起坐的次數(shù)，可反映人體的腹部肌群力量。 測試感應(yīng)桿可隨受測者身高來進(jìn)行前后調(diào)節(jié)，達(dá)到測試動(dòng)作標(biāo)準(zhǔn)化管理。 測試感應(yīng)探頭采用抗干擾傳感器，具有抗陽光干擾設(shè)計(jì)，提高測試準(zhǔn)確度與靈敏度。 采用LED斷碼屏幕顯示測試成績，單機(jī)可以獨(dú)立設(shè)置測試時(shí)間。85002025-07-11 -
半導(dǎo)體特性曲線儀iv+cv測試機(jī)
半導(dǎo)體特性曲線儀iv+cv測試機(jī)優(yōu)勢： IV、CV一鍵測；一體機(jī)，支持遠(yuǎn)程指令控制；支持三同軸接探針臺(tái) 能夠覆蓋從材料、晶圓、器件到模塊的測試；詳詢18140663476 典型應(yīng)用： 納米、柔性等材料特性分析； 二極管； MOSFET、BJT、晶體管、IGBT；面議2025-06-17 -
漏電流 開短路測試 電氣特性測試數(shù)字源表
數(shù)字源表可作為獨(dú)立的恒壓源或恒流源、電壓表、電流表和電子負(fù)載，支持四象限功能，可提供恒流測壓及恒壓測流功能,可簡化芯片電性能測試方案。 在生產(chǎn)和老化測試時(shí)，往往要求在同一時(shí)間內(nèi)完成對多個(gè)DUT的測試，或者在單個(gè)DUT上異步或者同步地運(yùn)行多個(gè)測試任務(wù)?；谄召愃笴面議2025-06-17 -
P系列脈沖源表IV測試激光器芯片
PXOOB系列脈沖源表是普賽斯在直流源表的基礎(chǔ)上新打造的一款高精度、大動(dòng)態(tài)、數(shù)字觸摸源表，匯集電壓、電流輸入輸出及測量等多種功能，Z大脈沖輸出電流達(dá)30A，Z大輸出電壓達(dá)300V，支持四象限工作，因此能廣泛的應(yīng)用于各種電氣特性測試中。PXOOB系列源表適用于各行各業(yè)使用者面議2025-06-17 -
源表搭建整流二極管的性能測試實(shí)驗(yàn)
源表搭建整流二極管的性能測試實(shí)驗(yàn)認(rèn)準(zhǔn)生產(chǎn)廠家武漢普賽斯儀表，詳詢一八一四零六六三四七六；普賽斯實(shí)驗(yàn)平臺(tái)以工程教育專業(yè)認(rèn)證為引領(lǐng)參與高校專業(yè)建設(shè)，以信息化引領(lǐng)構(gòu)建學(xué)習(xí)者為中心的教育生態(tài)，培養(yǎng)集成電路硬件測試人才。為學(xué)生提供豐富的教學(xué)資源以及貼近現(xiàn)實(shí)的產(chǎn)業(yè)環(huán)面議2025-06-17 -
S型數(shù)字源表工作原理
數(shù)字源表作為電學(xué)測量的常用儀器，在高校和研究所的相關(guān)實(shí)驗(yàn)室內(nèi)幾乎都能看到，源表集多表合一、配上專業(yè)軟件即可實(shí)現(xiàn)各種定制測量，使用非常廣泛。 S型數(shù)字源表在一個(gè)半機(jī)架尺寸的儀器中結(jié)合了電壓源、電流源、電壓表、電流表、電子負(fù)載等功能，這些測試功能，令數(shù)字源面議2025-06-17 -
HCPL100型高電流脈沖電源
HCPL100型高電流脈沖電源具有輸出電流大（1000A）、脈沖邊沿陡（10uS）、支持兩路脈沖電壓測量（峰值采樣）、支持輸出極性切換等特點(diǎn)。 設(shè)備可應(yīng)用于肖特基二極管、整流橋堆、IGBT器件、IGBT半橋模塊、IPM模塊等需要高電流的測試場合，使用該設(shè)備可以獨(dú)立完成“電流-導(dǎo)通面議2025-06-17 -
科研機(jī)構(gòu)專用數(shù)字源表高精度
數(shù)字源表作為電學(xué)測量的常用儀器，在高校和研究所的相關(guān)實(shí)驗(yàn)室內(nèi)幾乎都能看到，源表集多表合一、配上專業(yè)軟件即可實(shí)現(xiàn)各種定制測量，使用非常廣泛。 S型科研機(jī)構(gòu)專用數(shù)字源表高精度使用直觀的觸摸屏控制和圖標(biāo)化操作界面，令新用戶通過簡單操作快速獲取測試結(jié)果，大大面議2025-06-17 -
替代2651國產(chǎn)大電流數(shù)字源表
HCP系列大電流脈沖源表是普賽斯在直流源表的基礎(chǔ)上新打造的一款高精度、大動(dòng)態(tài)、數(shù)字觸摸源表，匯集電壓、電流輸入輸出及測量等多種功能，最大脈沖電流達(dá)100A，支持四象限工作，因此能廣泛的應(yīng)用于各種電氣特性測試中。大電流源表適用于各行各業(yè)使用者，特別適合現(xiàn)代半導(dǎo)體面議2025-06-17 -
8通道數(shù)字源表測試壓敏電阻
8通道數(shù)字源表測試壓敏電阻認(rèn)準(zhǔn)武漢生產(chǎn)廠家普賽斯儀表，詳詢一八一四零六六三四七六 氣敏電阻測試 阻值測試本質(zhì)上是FIMV（加電流測電壓）或FVMI（加電壓測電流），獲取IV曲線后計(jì)算阻值。 普賽斯源表具有豐富的電壓電流量程： 電壓范圍0.3mV~300V，電流范圍100面議2025-06-17 -
高精度臺(tái)式數(shù)字源表S系列國產(chǎn)電流源
高精度臺(tái)式數(shù)字源表S系列國產(chǎn)電流源優(yōu)勢 ? 性能強(qiáng)大-作為電壓源和或電流源，并同步測量電流和或電壓，支持四象限工作?？梢韵薅妷夯螂娏鬏敵龃笮?，預(yù)防器件損壞。覆蓋0-3A的電流范圍0-300V的電壓范圍，全量程測量精度0.03%。 ? 靈活多樣-支持兩線制和四線制測量，更面議2025-06-17 -
直流特性IV曲線SMU數(shù)字源表
普賽斯數(shù)字源表集電壓源、電流源、電壓表、電流表、電子負(fù)載功能于一體，支持四象限工作、微弱電流10pA輸出測量、3500V高壓下nA級(jí)測量、1000A脈沖大電流輸出，全系列產(chǎn)品豐富，新推出更高精度、更大直流的SXXB系列高精度數(shù)字源表，相比于傳統(tǒng)S系列源表，準(zhǔn)確度提升至±0.03%面議2025-06-17 -
半導(dǎo)體電學(xué)參數(shù)測試設(shè)備iv+cv測試機(jī)
半導(dǎo)體電學(xué)參數(shù)測試設(shè)備iv+cv測試機(jī)優(yōu)勢： IV、CV一鍵測；一體機(jī)，支持遠(yuǎn)程指令控制；支持三同軸接探針臺(tái) 能夠覆蓋從材料、晶圓、器件到模塊的測試;詳詢18140663476 SPA-6100半導(dǎo)體參數(shù)分析儀是武漢普賽斯自主研發(fā)、精益打造的一款半導(dǎo)體電學(xué)特性測試系統(tǒng)，具有高面議2025-06-13 -
高功率源表30A直流100A脈沖
HCP系列大電流臺(tái)式脈沖源表具備直流和脈沖輸出能力，最大脈沖輸出電流100A，最大輸出電壓100V，支持四象限工作，輸出及測量精度均可達(dá)0.1%，可廣泛用于功率MOS測試、肖特二極管測試、整流橋堆測試及太陽能電池模組測試等。詳詢一八一四零六六三四七六 應(yīng)用 ?納米材料面議2025-06-13 -
功率mos管電性能分析IV測試大電流源表
P系列功率mos管電性能分析IV測試大電流源表是普賽斯在直流源表的基礎(chǔ)上新打造的一款高精度、大動(dòng)態(tài)、數(shù)字觸摸源表，匯集電壓、電流輸入輸出及測量等多種功能，Z大脈沖輸出電流達(dá)10A，Z大輸出電壓達(dá)300V，支持四象限工作，因此能廣泛的應(yīng)用于各種電氣特性測試中。P系列源表適面議2025-06-13 -
基于數(shù)字源表的高校微電子教學(xué)實(shí)驗(yàn)平臺(tái)
基于數(shù)字源表的高校微電子教學(xué)實(shí)驗(yàn)平臺(tái)特色： 1、外觀簡潔緊湊集成度高 2、通用開放型儀表平臺(tái) 以數(shù)字源表(SMU)為核心，覆蓋所有材料器件的直流特性測試；示波器、信號(hào)源、數(shù)字電橋等通用儀表完成動(dòng)態(tài)參數(shù)測試實(shí)驗(yàn)。 3、模塊化設(shè)計(jì)實(shí)驗(yàn)夾具盒 4、引入集面議2025-06-13 -
數(shù)字源表助力工程師提取半導(dǎo)體器件IV電性能參數(shù)
半導(dǎo)體分立器件是組成集成電路的基礎(chǔ)，包含大量的雙端口或三端口器件，如二極管，晶體管，場效應(yīng)管等。 直流 I-V 測試則是表征微電子器件、工藝及材料特性的基石。通常使用 I-V 特性分析，或 I-V 曲線，來決定器件的基本參數(shù)。微電子器件種類繁多，引腳數(shù)量和待測參數(shù)各不相面議2025-06-13 -
高精度源表IV測試憶阻器直流特性
憶阻器基礎(chǔ)性能研究測試 憶阻器件的評(píng)估,一般包括直流特性、脈沖特性與交流特性測試,分析器件在相應(yīng)的直流、脈沖與交流作用下的憶阻特性,以及針對憶阻器件的保持力、穩(wěn)定性等非電學(xué)特性進(jìn)行測量。 直流l-V特性測試 不同極性、不同大小的電壓(電流)激勵(lì)會(huì)面議2025-06-13 -
大電流脈沖源表
P系列功率mos管I-V電性能測試大電流脈沖源表是普賽斯在直流源表的基礎(chǔ)上新打造的一款高精度、大動(dòng)態(tài)、數(shù)字觸摸源表，匯集電壓、電流輸入輸出及測量等多種功能，Z大脈沖輸出電流達(dá)10A，Z大輸出電壓達(dá)300V，支持四象限工作，因此能廣泛的應(yīng)用于各種電氣特性測試中。P系列源表面議2025-06-13 -
汽車電流傳感器標(biāo)定測試設(shè)備
汽車電流傳感器標(biāo)定測試設(shè)備簡介 電流傳感器測試系統(tǒng)集多種測量和分析功能一體，可精準(zhǔn)測量各種電流傳感器（霍爾電流傳感器、羅氏線圈、皮爾森線圈等）的靜態(tài)與動(dòng)態(tài)參數(shù)，單臺(tái)大電流源電流可高達(dá)1000A。該系統(tǒng)可測量不同電流傳感器的靜態(tài)與動(dòng)態(tài)參數(shù)，具有大電流特性、極面議2025-06-13 -
MEMS氣體傳感器測試系統(tǒng)
通常，氣體傳感器 I-V 特性測試需要幾臺(tái)儀器完成，如數(shù)字表、電壓源、電流源等。然而，由數(shù)臺(tái)儀器組成的系統(tǒng)需要分別進(jìn)行編程、同步、連接、測量和分析，過程既復(fù)雜又耗時(shí)，還占用過多測試臺(tái)的空間。而且，使用單一功能的測試儀器和激勵(lì)源還存在復(fù)雜的相互間觸發(fā)操作，有更面議2025-06-13 -
半導(dǎo)體電學(xué)特性測試系統(tǒng)CV+IV測試儀
SPA-6100半導(dǎo)體電學(xué)特性測試系統(tǒng)CV+IV測試儀是武漢普賽斯自主研發(fā)、精益打造的一款半導(dǎo)體電學(xué)特性測試系統(tǒng)，具有高精度、寬測量范圍、快速靈活、兼容性強(qiáng)等優(yōu)勢。產(chǎn)品可以同時(shí)支持DC電流-電壓(I-V)、電容-電壓(C-V)以及高流高壓下脈沖式I-V特性的測試，旨在幫助加快前沿材料面議2025-06-13 -
寬量程30μV-1200V,1pA-100A半導(dǎo)體參數(shù)分析儀
寬量程30μV-1200V,1pA-100A半導(dǎo)體參數(shù)分析儀特點(diǎn)： 30μV-1200V,1pA-100A寬量程測試能力； 測量精度高,全量程下可達(dá)0.03%精度； 內(nèi)置標(biāo)準(zhǔn)器件測試程序，直接調(diào)用測試簡便； 自動(dòng)實(shí)時(shí)參數(shù)提取，數(shù)據(jù)繪圖、分析函數(shù)； 在CV和IV測量之間快速切換而無需重面議2025-06-13 -
半導(dǎo)體特性測試儀IV曲線掃描儀
半導(dǎo)體特性測試儀IV曲線掃描儀認(rèn)準(zhǔn)普賽斯儀表，普賽斯儀表推出更高精度、更大直流的SXXB系列高精度數(shù)字源表，相比于傳統(tǒng)S系列源表，準(zhǔn)確度提升至±0.03%，直流電流升級(jí)至3A，可為半導(dǎo)體行業(yè)提供更加精準(zhǔn)、穩(wěn)定的測試方案?；詳詢一八一四零六六三四七六； S型數(shù)字源表應(yīng)用面議2025-06-13 -
功率器件CV測試系統(tǒng)+CV測試儀
系統(tǒng)方案 普賽斯功率器件CV測試系統(tǒng)+CV測試儀主要由源表、LCR表、矩陣開關(guān)和上位機(jī)軟件組成。LCR表支持的測量頻率范圍在0.1Hz~1MHz，源表(SMU)負(fù)責(zé)提供可調(diào)直流電壓偏置，通過矩陣開關(guān)加載在待測件上。 進(jìn)行 C-V 測量時(shí)，通常在電容兩端施加直流偏壓，同時(shí)利用一面議2025-04-08 -
半導(dǎo)體參數(shù)CV測試儀
半導(dǎo)體參數(shù)CV測試儀優(yōu)勢 頻率范圍寬：頻率范圍10Hz~1MHz連續(xù)頻率點(diǎn)可調(diào)； 高精度、大動(dòng)態(tài)范圍：提供0V~3500V偏壓范圍，精度0.1%； 內(nèi)置CV測試：內(nèi)置自動(dòng)化CV測試軟件，包含C-V（電容-電壓），C-T（電容-時(shí)間），C-F（電容-頻率）等多項(xiàng)測試測試功能; 兼容IV測試：同時(shí)面議2025-04-08 -
霍爾延時(shí)響應(yīng)測試系統(tǒng)電流傳感器測試設(shè)備
產(chǎn)品簡介 霍爾延時(shí)響應(yīng)測試系統(tǒng)電流傳感器測試設(shè)備集多種測量和分析功能一體，可精準(zhǔn)測量各種電流傳感器（霍爾電流傳感器、羅氏線圈、皮爾森線圈等）的靜態(tài)與動(dòng)態(tài)參數(shù)，單臺(tái)大電流源電流可高達(dá)1000A。該系統(tǒng)可測量不同電流傳感器的靜態(tài)與動(dòng)態(tài)參數(shù)，具有大電流特性、極快面議2025-04-08 -
LIV光電特性測試脈沖恒流源
LIV光電特性測試脈沖恒流源認(rèn)準(zhǔn)普賽斯儀表，廠家直銷，服務(wù)完善，詳詢一八一四零六六三四七六；PL系列脈沖電流源是針對大功率激光器LIV測試而研制的，觸摸顯示屏全圖形化操作，高靈敏度寬帶光功率檢測，內(nèi)置LIV測試軟件加速用戶完成測試，具有輸出電流脈沖窄、輸出脈沖電流面議2025-04-08 -
大功率igbt模塊測試設(shè)備功率器件靜態(tài)參數(shù)測試儀
普賽斯大功率igbt模塊測試設(shè)備功率器件靜態(tài)參數(shù)測試儀，集多種測量和分析功能一體，可以精準(zhǔn)測量不同封裝類型功率器件（如MOSFET、BJT、IGBT以及SiC、GaN第三代半導(dǎo)體等）的靜態(tài)參數(shù)，具有高電壓和大電流特性、μΩ級(jí)J確測量、nA級(jí)電流測量能力等特點(diǎn)。支持高壓模式下測量功率面議2025-04-08 -
半導(dǎo)體參數(shù)測試儀CV+IV曲線掃描儀
SPA-6100半導(dǎo)體參數(shù)測試儀CV+IV曲線掃描儀是武漢普賽斯自主研發(fā)、精益打造的一款半導(dǎo)體電學(xué)特性測試系統(tǒng)，具有高精度、寬測量范圍、快速靈活、兼容性強(qiáng)等優(yōu)勢。產(chǎn)品可以同時(shí)支持DC電流-電壓(I-V)、電容-電壓(C-V)以及高流高壓下脈沖式I-V特性的測試，旨在幫助加快前沿材料研面議2025-04-08 -
半導(dǎo)體特性曲線測試儀IV曲線掃描儀
普賽斯數(shù)字源表集電壓源、電流源、電壓表、電流表、電子負(fù)載功能于一體，支持四象限工作、微弱電流10pA輸出測量、3500V高壓下nA級(jí)測量、1000A脈沖大電流輸出，全系列產(chǎn)品豐富，新推出更高精度、更大直流的SXXB系列高精度數(shù)字源表，相比于傳統(tǒng)S系列源表，準(zhǔn)確度提升至±0.03%面議2025-04-08 -
半導(dǎo)體分立器件靜態(tài)測試設(shè)備
普賽斯半導(dǎo)體分立器件測試設(shè)備,集多種測量和分析功能一體,可以精準(zhǔn)測量IGBT功率半導(dǎo)體器件的靜態(tài)參數(shù),具有高電壓和大電流特性、uQ級(jí)精確測量、nA級(jí)電流測量能力等特點(diǎn)。支持高壓模式下測量功率器件結(jié)電容,如輸入電容、輸出電容、反向傳輸電容等。詳詢一八一四零六六三四七六面議2025-04-08 -
功率器件功能高壓測試模塊
E系列功率器件功能高壓測試模塊特點(diǎn)和優(yōu)勢： 十ms級(jí)的上升沿和下降沿； 單臺(tái)最大3500V的輸出； 0.1%測試精度； 同步電流或電壓測量； 支持程控恒壓測流，恒流測壓，便于掃描測試；詳詢一八一四零六六三四七六； 部分參數(shù) 最大輸出功率：350W，3500V面議2025-04-08 -
國產(chǎn)半導(dǎo)體參數(shù)分析儀1200V/100A
SPA-6100國產(chǎn)半導(dǎo)體參數(shù)分析儀是武漢普賽斯自主研發(fā)、精益打造的一款半導(dǎo)體電學(xué)特性測試系統(tǒng)，具有高精度、寬測量范圍、快速靈活、兼容性強(qiáng)等優(yōu)勢。產(chǎn)品可以同時(shí)支持DC電流-電壓(I-V)、電容-電壓(C-V)以及高流高壓下脈沖式I-V特性的測試；SPA-6100半導(dǎo)體參數(shù)分析儀可以幫助面議2025-04-08 -
大電流電源3000A電流源
普賽斯儀表專業(yè)研究和開發(fā)半導(dǎo)體材料與器件測試的專業(yè)智能裝備，產(chǎn)品覆蓋半導(dǎo)體領(lǐng)域從晶圓到器件生產(chǎn)全產(chǎn)業(yè)鏈。推出基于高精度數(shù)字源表(SMU）的第三代半導(dǎo)體功率器件靜態(tài)參數(shù)測試方案，為SiC和GaN器件提供可靠的測試手段，實(shí)現(xiàn)功率半導(dǎo)體器件靜態(tài)參數(shù)的高精度、高效率測量和面議2025-04-08
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